掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）是一種高分辨率的顯微鏡，其原理是利用電子束掃描樣品表面并收集散射電子、反射電子、二次電子等信號，經(jīng)過信號的放大、處理和成像后得到高清晰度的樣品表面形貌和微觀結構信息。

下面是掃描電子顯微鏡的基本使用方法：

樣品制備：根據(jù)需要制備不同類型的樣品，并確保樣品表面光滑、干燥、無氣泡和灰塵等。

樣品安裝：將樣品放置在樣品臺上，并使用夾具或?qū)щ娔z將其固定在臺面上，使樣品表面朝向電子槍。

調(diào)節(jié)參數(shù)：打開電子槍和探針槍，根據(jù)不同的樣品類型和需要觀察的信息，調(diào)節(jié)加速電壓、探針電壓、工作距離、放大倍數(shù)等參數(shù)。

開始觀察：啟動掃描儀器，觀察樣品表面結構，可以采用多種掃描模式和不同角度的觀察方式。

圖像處理：使用圖像處理軟件對采集到的圖像進行處理和分析，可以得到更詳細的信息和精細的圖像。

臺式掃描電鏡

需要注意的是，在使用掃描電子顯微鏡時，應當注意操作安全和保護儀器，以免損壞設備或造成傷害。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡使用方法。更多掃描電鏡價格及信息請咨詢