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澤攸科技JS系列臺階儀 | 低維模板和延遲結晶法制備高質量錫基鈣鈦礦薄膜及高性能晶體管

澤攸科技JS系列臺階儀作為國產高精度表面測量設備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術架構、靈活的應用場景及可靠的測量性能，可以對微納結構進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

長期以來，電子顯微鏡被視為精密儀器皇冠上的明珠，但其龐大的體積、高昂的造價以及復雜的維護體系，使其成為一個令普通實驗室望而卻步的“黑盒”。

澤攸科技作為中國本土的儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國內外用戶的重磅研究成果提供了技術支持。

澤攸科技自主研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡為例，其配備的低真空成像技術，正是應對電荷效應的利器。

澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強且經濟實用的科研設備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號探測器選擇，適用于形貌觀測和成分分析，還能適配多種原位實驗需求。

在實際應用中，澤攸科技的設備已被用于二維材料器件的電極制備、微流控芯片的快速成型、以及與電子束光刻（EBL）的混合套刻等前沿研究中，充分展現(xiàn)了其在快速原型制造和多功能集成方面的潛力。

金屬鹵化物鈣鈦礦因其光電特性，包括高X射線衰減能力、優(yōu)異的載流子傳輸性能和可調的帶隙，成為下一代X射線探測器領域中一類極具前景的材料。特別是單晶鈣鈦礦，由于其缺陷更少且沒有晶界，相比多晶材料展現(xiàn)出更優(yōu)越的性能，帶來了更高的靈敏度和更低的電子噪聲。